雷达式物位测量仪表 VEGA物位雷达式PULS61/62/63/65/66系列 液体或固体介质，特别适用于高温、高压、真空、粉尘、 蒸汽及测量腐蚀性极强或混合度高的介质 VEGAPULS 61 配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段) 特别适用于测量腐蚀性液体，或用于开口容器或渠道。 优势 - 探头材料: PVDF 或 PP - 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度 ±5 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics产品系列 测量范围 达 20 米 过程连接 G1 1/2A螺纹, 龙门框或法兰 过程温度 -40 ... 80°C 过程压力 -1 … +3 bar (-100 … +300 kPa) 测量精度 ±5 mm 发射频率 K-频段 VEGAPULS 62 配有喇叭口天线、抛物线天线或?¨- 导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(K-频段) 适用于存储容器或过程容器，可以在恶劣条件下测量几乎所有介质。 优势 - 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制 - 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度 ±3 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics产品系列 测量范围 达 35 米 过程连接 螺纹或法兰 过程温度 -40 ... 200°C 过程压力 -1 … +40 bar (-100 … +4000 kPa) 测量精度 ±3 mm 发射频率 K-频段 VEGAPULS 63 配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (K-频段) 特别适用于测量腐蚀性强的介质，或用于卫生无菌要求高的环境。 优势 - 用于探测的材料只有一种 - 可以测量至距离天线下缘50mm的地方 - 测量精度 ±3 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics产品系列 测量范围 达 20 米 过程连接 法兰或卫生连接 过程温度 -200…150°C 过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa) 测量精度 ±3 mm 发射频率 K-频段 VEGAPULS 65 配有棒式天线系统的雷达传感器，用于连续物位测量 (C-频段) 特别适用于小的过程连接，在较为简单的过程条件下测量腐蚀性液体。 优势 - 探头材料: PVDF 或 PTFE - 可以测量至距离天线下缘100mm的地方 - 测量精度 ±10 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics产品系列 测量范围 达 35 米 过程连接 G1 1/2A螺纹或法兰 过程温度 -40 ... 150°C 过程压力 -1 … +16 bar (-100 … +1600 kPa) 测量精度 ±10 mm 发射频率 C-频段 VEGAPULS 66 配有喇叭口天线或2”导波管天线的雷达传感器，用于连续物位测量(C-频段) 特别适用于在极端复杂的过程条件下进行测量。 优势 - 非接触是测量，不受过程温度、过程压力和过程气体的限制 - 可以测量至距离天线下缘100mm的地方 - 测量精度 ±10 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 - 属于plics产品系列 测量范围 达 35 米 过程连接 法兰 过程温度 -40 ... 400°C 过程压力 -1 … +160 bar (-100 … +16000 kPa) 测量精度 ±10 mm 发射频率 C-频段 VEGAPULS 67 配有塑封天线系统的雷达传感器，用于连续固料料位测量(K-频段) 特别适用于测量固体料位，料仓高度可达15米。 优势 - 非接触式测量，不受粉尘和风送入料的限制 - 测量精度 ±15 mm - ECHOFOX-信号分析处理，采用先进的模糊逻辑 - 通过 PLICSCOM, HART-编程器或计算机调试 -